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厂家促销覆层测厚仪,鼎丈璞复理MikroTest

上海鼎徵仪器仪表设备有限公司徐自勤 QQ: 312990348
竭诚欢迎广大新老客户前来咨询洽谈谈,本公司将以最热忱的服务和最优惠的价格回馈大家MikroTest
6完全自动操作,在使用时具有无可比拟的特性:1、自动测量,不会发生误操作2、易于掌握并具有极高精度3、不用校准设定,检测简便4、不需要电池或其它电源5、自动显示读数6、用无损测头,一点测定7、金属铠装适合于室外频繁操作使用8、抗机械冲击、酸及溶剂腐蚀9、平衡装置消除地球吸引力影响,可在任意方向和管内测量
MikroTest涂层测厚仪技术参数 型 号 测量范围 测量精度 最小测量区直径
最小曲率半径 基体最小厚度 适用范围 凸 凹 MikroTest G 0~100μm 1μm或5%
20mm 5mm 25mm 0.5mm 钢、铁上电镀层、漆、搪瓷、塑料、橡胶层 MikroTest F
0~1000μm 3μm或5% 30mm 8mm 25mm 0.5mm MikroTest S3 0.2~3mm 5% 30mm 15mm
25mm 1.0mm MikroTestT S5 0.5~5mm 5% 50mm 15mm 25mm 1.0mm MikroTest S10
2.5~10mm 5% 50mm 15mm 25mm 2.0mm MikroTest NiFe50 0~50μm 2μm+5% 20mm
20mm 25mm 0.5mm 钢上电镀镍层

2.5~10mm

LCD数字显示

MikroTestT S5

4500

5%

Fe:0.2mm,NFe:0.05mm

0.5mm

2000-3000μm≤±3%

20mm

最薄基体

钢、铁上电镀层、漆、搪瓷、塑料、橡胶层

QuaNix/Qnix
4200/4500:只需调零、无需校准Fe/NFe两用探头一体化设计自动开关机

电 源

25mm

10mm×10mm

50mm

测量范围

2.0mm

0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,

15mm

5号电池2节

最小测量区 直径

温度补偿

最小曲率半径

基 体

MikroTest G

110×60×27mm

1.0mm

涂层测厚仪 膜厚计 磁性、非磁性金属一体式镀层测厚仪 型号:QuaNix4500

30mm

显 示

MikroTest涂层测厚仪技术参数

显示精度

MikroTest F

QuaNix/Qnix技术参数

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